Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC

Da. Martin; Romain Desplats; Gérard Haller; Florence Azaïs; Pascal Nouet

doi:10.1016/j.microrel.2004.07.057

Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2004

Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC

, , , (1) , (1)

Da. Martin

Fonction : Auteur

Romain Desplats

Fonction : Auteur

Gérard Haller

Fonction : Auteur

Florence Azaïs

Fonction : Auteur
PersonId : 8583
IdHAL : florence-azais
ORCID : 0000-0001-6458-5018
IdRef : 114259453

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Pascal Nouet

Fonction : Auteur
PersonId : 6242
IdHAL : pascal-nouet
ORCID : 0000-0003-2137-2623
IdRef : 079135196

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Résumé

Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC

Domaines

Autre Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Fichier principal

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108546

Soumis le : lundi 23 octobre 2006-07:43:09

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Archivage à long terme le : mardi 6 avril 2010-20:27:29

Dates et versions

lirmm-00108546 , version 1 (23-10-2006)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00108546 , version 1
DOI : 10.1016/j.microrel.2004.07.057

Citer

Da. Martin, Romain Desplats, Gérard Haller, Florence Azaïs, Pascal Nouet. Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC. Microelectronics Reliability, 2004, 44 (9/11), pp.1553-1558. ⟨10.1016/j.microrel.2004.07.057⟩. ⟨lirmm-00108546⟩

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