TAM Design and Test Data Compression for SoC Test Cost Reduction - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2007

TAM Design and Test Data Compression for SoC Test Cost Reduction

Résumé

TAM Design and Test Data Compression for SoC Test Cost Reduction

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00159044

Soumis le : lundi 12 novembre 2007-16:50:50

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

Archivage à long terme le : jeudi 8 avril 2010-22:14:10

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Dates et versions

lirmm-00159044 , version 1 (12-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00159044 , version 1

Citer

Julien Dalmasso, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. TAM Design and Test Data Compression for SoC Test Cost Reduction. ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. 12th IEEE European Test Symposium, pp.241-246, 2007. ⟨lirmm-00159044⟩

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