Keynote intitulé "Power : The New Dimension of Test" - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Keynote intitulé "Power : The New Dimension of Test"

Patrick Girard
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00820640

Soumis le : lundi 6 mai 2013-12:35:26

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Archivage à long terme le : lundi 19 août 2013-15:20:38

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Dates et versions

lirmm-00820640 , version 1 (06-05-2013)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00820640 , version 1

Citer

Patrick Girard. Keynote intitulé "Power : The New Dimension of Test". WRTLT'2008: Workshop on RTL and High Level Testing, Nov 2008, Sapporo, Japan. ⟨lirmm-00820640⟩

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