Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Résumé

Tutorial

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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ats09-tutorial-t-low-power-test-graycale-two-slides-per-page.pdf (2.31 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00820650

Soumis le : lundi 6 mai 2013-12:58:17

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Archivage à long terme le : lundi 19 août 2013-15:20:58

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Dates et versions

lirmm-00820650 , version 1 (06-05-2013)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00820650 , version 1

Citer

Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices. ATS: Asian Test Symposium, Nov 2009, Taichung, Taiwan. ⟨lirmm-00820650⟩

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