Electrical Behavior of GOS Fault Affected Domino Logic Cell - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Electrical Behavior of GOS Fault Affected Domino Logic Cell

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102703

Soumis le : lundi 2 octobre 2006-15:41:20

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00102703 , version 1 (02-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102703 , version 1

Citer

Mariane Comte, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara, Michel Renovell. Electrical Behavior of GOS Fault Affected Domino Logic Cell. DELTA'06: IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications, Jan 2006, Kuala Lumpur, Malaysia, pp.183-189. ⟨lirmm-00102703⟩

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