HBM and CDM Stress Evaluation at Circuit Level - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Rapport Année : 2006

HBM and CDM Stress Evaluation at Circuit Level

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102725

Soumis le : lundi 2 octobre 2006-15:47:57

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00102725 , version 1 (02-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102725 , version 1

Citer

Marie Lafont, Florence Azaïs, Pascal Nouet. HBM and CDM Stress Evaluation at Circuit Level. 06023, 2006, 15 p. ⟨lirmm-00102725⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LARA LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
74 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More