Automatic Test Generation: A Use Case Driven Approach

Abstract : Automatic Test Generation: A Use Case Driven Approach
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IEEE Transactions on Software Engineering, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, 32 (3), pp.140-155
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 2 octobre 2006 - 16:05:14
Dernière modification le : mercredi 11 avril 2018 - 01:57:38
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 01:19:30

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  • HAL Id : lirmm-00102747, version 1

Citation

Clémentine Nebut, F. Fleurey, Y. Le Traon, J.M. Jezequel. Automatic Test Generation: A Use Case Driven Approach. IEEE Transactions on Software Engineering, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, 32 (3), pp.140-155. 〈lirmm-00102747〉

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