An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102761

Soumis le : lundi 2 octobre 2006-16:10:00

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00102761 , version 1 (02-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102761 , version 1

Citer

Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Marylène Combe, Patrick Girard, Christian Landrault, et al.. An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories. VTS'06: VLSI Test Symposium, Apr 2006, Berkeley, CA, United States. pp.108-113. ⟨lirmm-00102761⟩

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