An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories

Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'06: VLSI Test Symposium, Apr 2006, Berkeley, CA, United States. IEEE, pp.108-113, 2006
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102761
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 2 octobre 2006 - 16:10:00
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102761, version 1

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Citation

Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Marylène Combe, Patrick Girard, Christian Landrault, et al.. An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories. VTS'06: VLSI Test Symposium, Apr 2006, Berkeley, CA, United States. IEEE, pp.108-113, 2006. 〈lirmm-00102761〉

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