Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102761
Soumis le : lundi 2 octobre 2006-16:10:00
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00102761 , version 1
Citer
Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Marylène Combe, Patrick Girard, Christian Landrault, et al.. An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories. VTS'06: VLSI Test Symposium, Apr 2006, Berkeley, CA, United States. pp.108-113. ⟨lirmm-00102761⟩
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