Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2005
Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105327
Soumis le : mercredi 11 octobre 2006-07:51:27
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Citer
I. Polian, P. Engelke, Michel Renovell, P. Becker. Modeling Feedback Bridging Faults with Non-Zero Resistance. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2005, 21 (1), pp.57-69. ⟨10.1007/s10836-005-5287-6⟩. ⟨lirmm-00105327⟩
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