Performances of Coupled Interconnect Lines: The Impact of Inductance and Routing Orientation

Denis Deschacht 1 A. Lopez
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
International Conference on VLSI Design, Jan 2005, Kolkata, India. 18th IEEE International Conference on VLSI Design, pp.640-643, 2005, 〈10.1109/ICVD.2005.135〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105960
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:10
Dernière modification le : mercredi 4 avril 2018 - 18:38:03

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Denis Deschacht, A. Lopez. Performances of Coupled Interconnect Lines: The Impact of Inductance and Routing Orientation. International Conference on VLSI Design, Jan 2005, Kolkata, India. 18th IEEE International Conference on VLSI Design, pp.640-643, 2005, 〈10.1109/ICVD.2005.135〉. 〈lirmm-00105960〉

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