Communication Dans Un Congrès
Année : 2005
Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105997
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006-10:22:45
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00105997 , version 1
Citer
I. Polian, Kundu Sandip, Jean-Marc J.-M. Galliere, P. Engelke, Michel Renovell, et al.. Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies. VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), pp.343-348. ⟨lirmm-00105997⟩
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