Test Control for Secure Scan Designs - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Test Control for Secure Scan Designs

David Hely
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes
CV
Frédéric Bancel
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics
Marie-Lise Flottes
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Bruno Rouzeyre
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106011

Soumis le : vendredi 13 octobre 2006-10:22:46

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-10:10:37

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00106011 , version 1 (13-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106011 , version 1

Citer

David Hely, Frédéric Bancel, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Test Control for Secure Scan Designs. ETS: European Test Symposium, May 2005, Tallinn, Estonia. pp.190-195. ⟨lirmm-00106011⟩

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