Modeling Halo Implant Failures in MOS Sub-Micron Technology - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Modeling Halo Implant Failures in MOS Sub-Micron Technology

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106513

Soumis le : lundi 16 octobre 2006-08:38:39

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00106513 , version 1 (16-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106513 , version 1

Citer

Arnaud Regnier, Jean-Michel Portal, Rachid Bouchakour, Michel Renovell. Modeling Halo Implant Failures in MOS Sub-Micron Technology. LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2005, Salvador, Bahia, Brazil. pp.29-33. ⟨lirmm-00106513⟩

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