Fast and Fully-Efficient Test Flow for ADCs

Serge Bernard 1 Mariane Comte 1 Florence Azaïs 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
IMSTW'05: 11th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2005, Cannes, pp.244-249, 2005
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106523
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 16 octobre 2006 - 08:38:43
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106523, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Serge Bernard, Mariane Comte, Florence Azaïs, Yves Bertrand, Michel Renovell. Fast and Fully-Efficient Test Flow for ADCs. IMSTW'05: 11th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2005, Cannes, pp.244-249, 2005. 〈lirmm-00106523〉

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