Conference Papers
Year : 2005
Christine Carvalho De Matos : Connect in order to contact the contributor
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106528
Submitted on : Monday, October 16, 2006-8:38:44 AM
Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:48 PM
Dates and versions
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00106528 , version 1
Cite
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série. JNRDM 2005 - 8e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France. ⟨lirmm-00106528⟩
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