Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106528

Soumis le : lundi 16 octobre 2006-08:38:44

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00106528 , version 1 (16-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106528 , version 1

Citer

Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série. JNRDM 2005 - 8e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France. ⟨lirmm-00106528⟩

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