Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together

David Hely 1 Frédéric Bancel 2 Marie-Lise Flottes 3 Bruno Rouzeyre 3
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together
keyword : SECURITE TEST SAMRTCARDS
Type de document :
Communication dans un congrès
SAME'05: Sophia-Antipolis Forum on MicroElectronics, Oct 2005, Sophia-Antipolis, France. 2005
Liste complète des métadonnées

Littérature citée [3 références]  Voir  Masquer  Télécharger
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106546
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 16 octobre 2006 - 08:45:03
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 19:47:33

Fichier

D589.PDF

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106546, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

David Hely, Frédéric Bancel, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together. SAME'05: Sophia-Antipolis Forum on MicroElectronics, Oct 2005, Sophia-Antipolis, France. 2005. 〈lirmm-00106546〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

148

Téléchargements de fichiers

207

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD