Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together

Résumé

Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together

Mots clés

SAMRTCARDS SECURITE TEST

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106546

Soumis le : lundi 16 octobre 2006-08:45:03

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Archivage à long terme le : mardi 6 avril 2010-19:47:33

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Dates et versions

lirmm-00106546 , version 1 (16-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106546 , version 1

Citer

David Hely, Frédéric Bancel, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together. SAME'05: Sophia-Antipolis Forum on MicroElectronics, Oct 2005, Sophia-Antipolis, France. ⟨lirmm-00106546⟩

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