Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together

David Hely 1 Frédéric Bancel 2 Marie-Lise Flottes 3 Bruno Rouzeyre 3
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together
keyword : SECURITE TEST SAMRTCARDS
Type de document :
Communication dans un congrès
SAME'05: Sophia-Antipolis Forum on MicroElectronics, Oct 2005, Sophia-Antipolis, France. 2005
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 16 octobre 2006 - 08:45:03
Dernière modification le : mardi 18 décembre 2018 - 13:18:13
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 19:47:33

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D589.PDF

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  • HAL Id : lirmm-00106546, version 1

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Citation

David Hely, Frédéric Bancel, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together. SAME'05: Sophia-Antipolis Forum on MicroElectronics, Oct 2005, Sophia-Antipolis, France. 2005. 〈lirmm-00106546〉

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