Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2004
Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108581
Soumis le : lundi 23 octobre 2006-07:43:15
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Citer
Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Loïs Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2004, 20 (6), pp.647-660. ⟨10.1007/s10677-004-4252-2⟩. ⟨lirmm-00108581⟩
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