Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror

S. Bernardini
CV
P. Masson
  • Fonction : Auteur
Jean-Michel Portal
Laboratoire matériaux et microélectronique de Provence
Jean-Marc J.-M. Galliere
Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
CV
Michel Renovell
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108659

Soumis le : lundi 23 octobre 2006-08:52:41

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00108659 , version 1 (23-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108659 , version 1

Citer

S. Bernardini, P. Masson, Jean-Michel Portal, Jean-Marc J.-M. Galliere, Michel Renovell. Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror. LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, Spain. pp.12-17. ⟨lirmm-00108659⟩

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