An Efficient Scan Tree Design for Test Time Reduction - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

An Efficient Scan Tree Design for Test Time Reduction

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108901

Soumis le : lundi 23 octobre 2006-12:57:11

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00108901 , version 1 (23-10-2006)

Identifiants

Citer

Yannick Bonhomme, Tomohiro Yoneda, Hideo Fujiwara, Patrick Girard. An Efficient Scan Tree Design for Test Time Reduction. ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. pp.174-179, ⟨10.1109/ETSYM.2004.1347657⟩. ⟨lirmm-00108901⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
71 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More