User-Constrained Test Architecture Design for Modular SOC Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

User-Constrained Test Architecture Design for Modular SOC Testing

L. Krundel
  • Fonction : Auteur
S. Kumar Goel
  • Fonction : Auteur
E.J. Marinissen
  • Fonction : Auteur
Marie-Lise Flottes
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Bruno Rouzeyre
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108903

Soumis le : lundi 23 octobre 2006-12:57:12

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00108903 , version 1 (23-10-2006)

Identifiants

Citer

L. Krundel, S. Kumar Goel, E.J. Marinissen, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. User-Constrained Test Architecture Design for Modular SOC Testing. ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. pp.80-85, ⟨10.1109/ETSYM.2004.1347611⟩. ⟨lirmm-00108903⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
43 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More