Manufacturing-Oriented Testing of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAs

Patrick Girard; Olivier Héron; Serge Pravossoudovitch; Michel Renovell

Manufacturing-Oriented Testing of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAs

Patrick Girard ¹ Olivier Héron ² Serge Pravossoudovitch ¹ Michel Renovell ¹

1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Type de document :

Communication dans un congrès

ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. 9th IEEE European Test Symposium, pp.117-122, 2004

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108905
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:57:12
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

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