Manufacturing-Oriented Testing of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAs

Patrick Girard 1 Olivier Héron 2 Serge Pravossoudovitch 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. 9th IEEE European Test Symposium, pp.117-122, 2004
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108905
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:57:12
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108905, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell. Manufacturing-Oriented Testing of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAs. ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. 9th IEEE European Test Symposium, pp.117-122, 2004. 〈lirmm-00108905〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

52

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD