Digital and Analog System Testing: Fundamentals and New Challenges

Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
ICM'04: 16th International Conference on Microelectronics, Dec 2004, Tunis (Tunisia), IEEE, pp.8-10, 2004
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108936
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:57:26
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108936, version 1

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Citation

Michel Renovell. Digital and Analog System Testing: Fundamentals and New Challenges. ICM'04: 16th International Conference on Microelectronics, Dec 2004, Tunis (Tunisia), IEEE, pp.8-10, 2004. 〈lirmm-00108936〉

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