Realistic Fault Models for Defects in Electronic Circuits - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Realistic Fault Models for Defects in Electronic Circuits

Michel Renovell
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00109134

Soumis le : mardi 24 octobre 2006-07:31:53

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00109134 , version 1 (24-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00109134 , version 1

Citer

Michel Renovell. Realistic Fault Models for Defects in Electronic Circuits. BEC'04: International Baltic Electronic Conference, Oct 2004, pp.33-37. ⟨lirmm-00109134⟩

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