Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00109142 , version 1 (24-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00109142 , version 1

Citer

Pascal Nouet. Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing. 1st DfMM Summer School, 2004. ⟨lirmm-00109142⟩
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