March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Documentation
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Communication Dans Un Congrès Année : 2006

March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit

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Luigi Dilillo

Fonction : Auteur
PersonId : 172470
IdHAL : luigi-dilillo
ORCID : 0000-0002-1295-2688
IdRef : 18891885X

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Patrick Girard

Fonction : Auteur
PersonId : 740458
IdHAL : patrick-girard-lirmm
ORCID : 0000-0003-0722-8772

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Magali Bastian Hage-Hassan

Fonction : Auteur

Infineon Technologies France

Serge Pravossoudovitch

Fonction : Auteur
PersonId : 938342

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Arnaud Virazel

Fonction : Auteur
PersonId : 18065
IdHAL : arnaud-virazel
ORCID : 0000-0001-7398-7107
IdRef : 068454724

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Mots clés

Test RAM memories pre-charge circuit defects

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christian Landrault : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00134776

Soumis le : lundi 5 mars 2007-13:47:48

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Dates et versions

lirmm-00134776 , version 1 (05-03-2007)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00134776 , version 1

Citer

Luigi Dilillo, Patrick Girard, Magali Bastian Hage-Hassan, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit. DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2006, Prague, République Tchèque, pp.256-261. ⟨lirmm-00134776⟩

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