March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christian Landrault  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00134776

Soumis le : lundi 5 mars 2007-13:47:48

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00134776 , version 1 (05-03-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00134776 , version 1

Citer

Luigi Dilillo, Patrick Girard, Magali Bastian Hage-Hassan, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit. DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2006, Prague, République Tchèque, pp.256-261. ⟨lirmm-00134776⟩

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