Poster De Conférence
Année : 2006
Christian Landrault : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00134787
Soumis le : lundi 5 mars 2007-14:05:25
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00134787 , version 1
Citer
Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan. Failure Mechanisms due to Process Variations in Nanoscale SRAM Core-Cells. ETS: European Test Symposium, May 2006, Southampton, United Kingdom. 11th IEEE European Test Symposium, 2006. ⟨lirmm-00134787⟩
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