Failure Mechanisms due to Process Variations in Nanoscale SRAM Core-Cells - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Poster De Conférence Année : 2006

Failure Mechanisms due to Process Variations in Nanoscale SRAM Core-Cells

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christian Landrault  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00134787

Soumis le : lundi 5 mars 2007-14:05:25

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00134787 , version 1 (05-03-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00134787 , version 1

Citer

Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan. Failure Mechanisms due to Process Variations in Nanoscale SRAM Core-Cells. ETS: European Test Symposium, May 2006, Southampton, United Kingdom. 11th IEEE European Test Symposium, 2006. ⟨lirmm-00134787⟩

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