Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2006
Christian Landrault : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00135456
Soumis le : mercredi 7 mars 2007-16:50:30
Dernière modification le : mercredi 15 mai 2024-13:50:04
Citer
Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Olivier Héron, Michel Renovell. An Efficient BIST Architecture for Delay Faults in the Logic Cells of Symmetrical SRAM-Based FPGAs. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2006, 22 (2), pp.161-172. ⟨10.1007/s10836-005-4631-1⟩. ⟨lirmm-00135456⟩
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