Logic Errors in CMOS Circuits due to Simultaneous Switching Noise - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Poster De Conférence Année : 2007

Logic Errors in CMOS Circuits due to Simultaneous Switching Noise

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00154744

Soumis le : jeudi 14 juin 2007-15:35:14

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00154744 , version 1 (14-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00154744 , version 1

Citer

Florence Azaïs, Laurent Larguier, Michel Renovell. Logic Errors in CMOS Circuits due to Simultaneous Switching Noise. ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. 12th IEEE European Test Symposium, pp.59-64, 2007. ⟨lirmm-00154744⟩

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