Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits

Florence Azaïs 1 Laurent Larguier 2 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. 16th IEEE Asian Test Symposium, pp.239-244, 2007
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00179262
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 15 octobre 2007 - 10:43:00
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00179262, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Florence Azaïs, Laurent Larguier, Michel Renovell. Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits. ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. 16th IEEE Asian Test Symposium, pp.239-244, 2007. 〈lirmm-00179262〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

78

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD