Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits

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Communication dans un congrès
ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. 16th IEEE Asian Test Symposium, pp.239-244, 2007
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 15 octobre 2007 - 10:43:00
Dernière modification le : mercredi 18 juillet 2018 - 10:54:13

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  • HAL Id : lirmm-00179262, version 1

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Citation

Florence Azaïs, Laurent Larguier, Michel Renovell. Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits. ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. 16th IEEE Asian Test Symposium, pp.239-244, 2007. 〈lirmm-00179262〉

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