Skip to Main content Skip to Navigation
Conference papers

Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits

Florence Azaïs 1 Laurent Larguier 2 Michel Renovell 1 
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00179262
Contributor : Martine Peridier Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Monday, October 15, 2007 - 10:43:00 AM
Last modification on : Friday, August 5, 2022 - 10:48:06 AM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00179262, version 1

Collections

CNRS | SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Florence Azaïs, Laurent Larguier, Michel Renovell. Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits. ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. pp.239-244. ⟨lirmm-00179262⟩

Export

BibTeX TEI DC DCterms EndNote Datacite

Share

Metrics

Record views

46