Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits

Florence Azaïs; Laurent Larguier; Michel Renovell

Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits

Florence Azaïs ¹ Laurent Larguier ² Michel Renovell ¹

1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Type de document :

Communication dans un congrès

ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. 16th IEEE Asian Test Symposium, pp.239-244, 2007

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00179262
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 15 octobre 2007 - 10:43:00
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

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