Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00179262

Soumis le : lundi 15 octobre 2007-10:43:00

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00179262 , version 1 (15-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00179262 , version 1

Citer

Florence Azaïs, Laurent Larguier, Michel Renovell. Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits. ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. pp.239-244. ⟨lirmm-00179262⟩

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