Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits

Florence Azaïs 1 Laurent Larguier 2 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00179262
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Monday, October 15, 2007 - 10:43:00 AM
Last modification on : Friday, July 20, 2018 - 12:34:01 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00179262, version 1

Collections

CNRS | SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Florence Azaïs, Laurent Larguier, Michel Renovell. Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static Behavior of Digital CMOS Circuits. ATS: Asian Test Symposium, Oct 2007, Beijing, China. pp.239-244. ⟨lirmm-00179262⟩

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