Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00260205

Soumis le : lundi 3 mars 2008-15:10:24

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00260205 , version 1 (03-03-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00260205 , version 1

Citer

Ziad Noun, Philippe Cauvet, Marie-Lise Flottes, Serge Bernard, David Andreu, et al.. Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test. LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, Mar 2008, Puebla, Mexico. pp.165-170. ⟨lirmm-00260205⟩

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