On-Chip Generator of a Saw-Tooth Test Stimulus for ADC BIST

Florence Azaïs 1 Serge Bernard 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
SoC Design Methodologies - 11th International Conference on Very Large Scale Integration of Systems-on-Chips, Montpellier, France, Kluwer Academic Publishers, pp.425-436, 2002
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00268477
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:28
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00268477, version 1

Collections

Citation

Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Michel Renovell. On-Chip Generator of a Saw-Tooth Test Stimulus for ADC BIST. SoC Design Methodologies - 11th International Conference on Very Large Scale Integration of Systems-on-Chips, Montpellier, France, Kluwer Academic Publishers, pp.425-436, 2002. 〈lirmm-00268477〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

60