On-Chip Generator of a Saw-Tooth Test Stimulus for ADC BIST

Florence Azaïs 1 Serge Bernard 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
VLSI-SoC: Very Large Scale Integration of Systems-on-Chips, 2002, Montpellier, France. Kluwer Academic Publishers, 11th International Conference on Very Large Scale Integration of Systems-on-Chips, pp.425-436, 2002
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:28
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 18:09:53

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  • HAL Id : lirmm-00268477, version 1

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Citation

Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Michel Renovell. On-Chip Generator of a Saw-Tooth Test Stimulus for ADC BIST. VLSI-SoC: Very Large Scale Integration of Systems-on-Chips, 2002, Montpellier, France. Kluwer Academic Publishers, 11th International Conference on Very Large Scale Integration of Systems-on-Chips, pp.425-436, 2002. 〈lirmm-00268477〉

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