On Using Efficient Test Sequences for BIST - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

On Using Efficient Test Sequences for BIST

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00268499

Soumis le : mardi 1 avril 2008-09:27:33

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:56:03

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00268499 , version 1 (01-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00268499 , version 1

Citer

René M. G. David, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. On Using Efficient Test Sequences for BIST. VTS: VLSI Test Symposium, 2002, Monterey, CA, United States. pp.145-150. ⟨lirmm-00268499⟩

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