Caractérisation et Modélisation de Thyristors Parasites en Technologie CMOS Fortement Submicronique - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Caractérisation et Modélisation de Thyristors Parasites en Technologie CMOS Fortement Submicronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269319

Soumis le : mercredi 2 avril 2008-16:45:59

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00269319 , version 1 (02-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269319 , version 1

Citer

Florence Azaïs, Benjamin Caillard, Pascal Nouet, Pascal Salomé. Caractérisation et Modélisation de Thyristors Parasites en Technologie CMOS Fortement Submicronique. Colloque du GDR CAO de Circuits et Systèmes Intégrés, Paris (France), France. pp. 137-140. ⟨lirmm-00269319⟩

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