On the Evaluation of ADC Static Parameters Through Dynamic Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Documentation
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Communication Dans Un Congrès Année : 2002

On the Evaluation of ADC Static Parameters Through Dynamic Testing

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Mariane Comte

Fonction : Auteur
PersonId : 2084
IdHAL : mariane-comte
IdRef : 078523052

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Florence Azaïs

Fonction : Auteur
PersonId : 8583
IdHAL : florence-azais
ORCID : 0000-0001-6458-5018
IdRef : 114259453

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Serge Bernard

Fonction : Auteur
PersonId : 1186
IdHAL : serge-bernard
ORCID : 0000-0003-1772-0592
IdRef : 121569209

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Yves Bertrand

Fonction : Auteur
PersonId : 938340

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Michel Renovell

Fonction : Auteur
PersonId : 20711
IdHAL : michel-renovell
ORCID : 0000-0002-3896-8231
IdRef : 031539130

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269338

Soumis le : mercredi 2 avril 2008-16:46:03

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Dates et versions

lirmm-00269338 , version 1 (02-04-2008)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00269338 , version 1

Citer

Mariane Comte, Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Michel Renovell. On the Evaluation of ADC Static Parameters Through Dynamic Testing. ADDA & EWADC, Jun 2002, Prague, Czech Republic. pp.95-98. ⟨lirmm-00269338⟩

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