Improving the Efficiency of the Oscillation-Based Test Methodology for Parametric Faults

Aboubacar Chaehoi 1 Yves Bertrand 2 Laurent Latorre 2 Pascal Nouet 2
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : In this paper we introduce the use of Monte-Carlo (MC) simulations in order to facilitate OTM implementation and to evaluate fault coverage quantitatively even for parametric faults. Thanks to a case study, we demonstrate the contribution of MC simulations for both tolerance range and test efficiency determination.
Type de document :
Communication dans un congrès
LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.234-237, 2003
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269433
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:11:54
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24
Document(s) archivé(s) le : vendredi 21 mai 2010 - 01:12:17

Fichier

D156.PDF
Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269433, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Aboubacar Chaehoi, Yves Bertrand, Laurent Latorre, Pascal Nouet. Improving the Efficiency of the Oscillation-Based Test Methodology for Parametric Faults. LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.234-237, 2003. 〈lirmm-00269433〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

90

Téléchargements de fichiers

84

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD