Improving the Efficiency of the Oscillation-Based Test Methodology for Parametric Faults

Aboubacar Chaehoi 1 Yves Bertrand 2 Laurent Latorre 2 Pascal Nouet 2
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : In this paper we introduce the use of Monte-Carlo (MC) simulations in order to facilitate OTM implementation and to evaluate fault coverage quantitatively even for parametric faults. Thanks to a case study, we demonstrate the contribution of MC simulations for both tolerance range and test efficiency determination.
Type de document :
Communication dans un congrès
LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.234-237, 2003
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269433
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:11:54
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24
Document(s) archivé(s) le : vendredi 21 mai 2010 - 01:12:17

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  • HAL Id : lirmm-00269433, version 1

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Aboubacar Chaehoi, Yves Bertrand, Laurent Latorre, Pascal Nouet. Improving the Efficiency of the Oscillation-Based Test Methodology for Parametric Faults. LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.234-237, 2003. 〈lirmm-00269433〉

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