Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM

Type de document :
Communication dans un congrès
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2003, Toulouse, France. 6ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, pp.381-383, 2003
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:45
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 18:15:08

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  • HAL Id : lirmm-00269544, version 1

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Citation

Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell. Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM. JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2003, Toulouse, France. 6ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, pp.381-383, 2003. 〈lirmm-00269544〉

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