Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269544

Soumis le : jeudi 3 avril 2008-08:21:45

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00269544 , version 1 (03-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269544 , version 1

Citer

Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell. Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM. JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2003, Toulouse, France. pp.381-383. ⟨lirmm-00269544⟩

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