Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Conference Papers Year : 2003

Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM

Domains

Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Christine Carvalho De Matos  : Connect in order to contact the contributor

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269544

Submitted on : Thursday, April 3, 2008-8:21:45 AM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:50 PM

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Dates and versions

lirmm-00269544 , version 1 (03-04-2008)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00269544 , version 1

Cite

Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell. Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM. JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2003, Toulouse, France. pp.381-383. ⟨lirmm-00269544⟩

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