An Automatic Tool for Generation of ADC BIST Architecture

Serge Bernard 1 Florence Azaïs 1 Mariane Comte 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Keywords : HISTOGRAM-BASED TEST BIST
Type de document :
Communication dans un congrès
IMSTW: International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2003, Sevilla, Spain. 9th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.79-84, 2003
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269580
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:53
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 18:06:08

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269580, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Serge Bernard, Florence Azaïs, Mariane Comte, Yves Bertrand, Michel Renovell. An Automatic Tool for Generation of ADC BIST Architecture. IMSTW: International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2003, Sevilla, Spain. 9th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.79-84, 2003. 〈lirmm-00269580〉

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