An Automatic Tool for Generation of ADC BIST Architecture

Serge Bernard; Florence Azaïs; Mariane Comte; Yves Bertrand; Michel Renovell

An Automatic Tool for Generation of ADC BIST Architecture

Serge Bernard ¹ Florence Azaïs ¹ Mariane Comte ¹ Yves Bertrand ¹ Michel Renovell ¹

1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Keywords : BIST TEST DES CAN HISTOGRAM-BASED TEST

Type de document :

Communication dans un congrès

IMSTW'03: 9th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, Sevilla (Spain), France. pp. 79-84, 2003

Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269580
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:53
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

An Automatic Tool for Generation of ADC BIST Architecture

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Métriques

68

Contact

An Automatic Tool for Generation of ADC BIST Architecture

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Partager

Métriques

68

Contact