Analysis of the Specification Influence on the Efficiency of an Optimized Test Flow for ADCs

Mariane Comte 1 Florence Azaïs 1 Serge Bernard 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
IMSTW: International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2003, Sevilla, Spain. 9th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.185-190, 2003
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:53
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 13:24:56

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  • HAL Id : lirmm-00269583, version 1

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Citation

Mariane Comte, Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Michel Renovell. Analysis of the Specification Influence on the Efficiency of an Optimized Test Flow for ADCs. IMSTW: International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2003, Sevilla, Spain. 9th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.185-190, 2003. 〈lirmm-00269583〉

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