 |
HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Conference papers
GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model
Michel Renovell
1
Jean-Marc Galliere
2
Florence Azaïs
1
Yves Bertrand
1
Jean-Michel Portal
3
Rachid Bouchakour
3
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Michel Renovell 1
Author IdHAL : michel-renovell ORCID : https://orcid.org/0000-0002-3896-8231
Jean-Marc J.-M. Galliere 2
Author Employer institution : Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier IdHAL : jean-marc-galliere ORCID : https://orcid.org/0000-0001-8753-3392
Florence Azaïs 1
Author IdHAL : florence-azais
Yves Bertrand 1
Author
Jean-Michel Portal 3
Author IdHAL : jean-michel-portal
Rachid Bouchakour 3
Author
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
2
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
3
IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (Faculté des Sciences
Avenue Escadrille Normandie Niemen
Case 142
13397 Marseille Cedex 20 - France)
- UTLN - Université de Toulon : UMR7334 /UMR6242 (Avenue de l'Université - BP 20132 - 83957 La Garde Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7334 /UMR6242 (France)
- AMU - Aix Marseille Université : UMR7334 /UMR6242 (Aix-Marseille Université Jardins du Pharo 58 Boulevard Charles Livon 13284 Marseille cedex 7 - France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269604
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Thursday, April 3, 2008 - 8:21:57 AM
Last modification on : Monday, March 29, 2021 - 3:08:05 PM
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Thursday, April 3, 2008 - 8:21:57 AM
Last modification on : Monday, March 29, 2021 - 3:08:05 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00269604, version 1
Collections
Citation
Michel Renovell, Jean-Marc Galliere, Florence Azaïs, Yves Bertrand, Jean-Michel Portal, et al.. GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model. LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. ⟨lirmm-00269604⟩
Metrics
Record views