GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model

Michel Renovell 1 Jean-Marc Galliere 2 Florence Azaïs 1 Yves Bertrand 1 Jean-Michel Portal 3 Rachid Bouchakour 3
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269604
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Thursday, April 3, 2008 - 8:21:57 AM
Last modification on : Friday, July 20, 2018 - 12:34:01 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00269604, version 1

Collections

CNRS | SYSMIC | LIRMM | UNIV-TLN | UNIV-AMU | IM2NP | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Michel Renovell, Jean-Marc Galliere, Florence Azaïs, Yves Bertrand, Jean-Michel Portal, et al.. GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model. LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. ⟨lirmm-00269604⟩

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