GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269604

Soumis le : jeudi 3 avril 2008-08:21:57

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00269604 , version 1 (03-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269604 , version 1

Citer

Michel Renovell, Jean-Marc J.-M. Galliere, Florence Azaïs, Yves Bertrand, Jean-Michel Portal, et al.. GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model. LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. ⟨lirmm-00269604⟩

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