GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model

Michel Renovell 1 Jean-Marc Galliere 2 Florence Azaïs 1 Yves Bertrand 1 Jean-Michel Portal 3 Rachid Bouchakour 3
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Type de document :
Communication dans un congrès
LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. 4th IEEE Latin American Test Workshop, 2003
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269604
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:57
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269604, version 1

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Citation

Michel Renovell, Jean-Marc Galliere, Florence Azaïs, Yves Bertrand, Jean-Michel Portal, et al.. GOSMOS: A Gate Oxide Short Defect Embedded in a MOS Compact Model. LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. 4th IEEE Latin American Test Workshop, 2003. 〈lirmm-00269604〉

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