Efficient Scan Chain Design for Power Minimization During Scan Testing Under Routing Constraint

Type de document :
Communication dans un congrès
ITC'03: International Test Conference, Charlotte, NC (USA), pp. 488-493, 2003
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269609
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:59
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269609, version 1

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Citation

Yannick Bonhomme, Patrick Girard, L. Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Efficient Scan Chain Design for Power Minimization During Scan Testing Under Routing Constraint. ITC'03: International Test Conference, Charlotte, NC (USA), pp. 488-493, 2003. 〈lirmm-00269609〉

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