Efficient Scan Chain Design for Power Minimization During Scan Testing Under Routing Constraint

Type de document :
Communication dans un congrès
ITC: International Test Conference, Sep 2003, Charlotte, NC, United States. pp.488-493, 2003, 〈10.1109/TEST.2003.1270874〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269609
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:59
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Loïs Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Efficient Scan Chain Design for Power Minimization During Scan Testing Under Routing Constraint. ITC: International Test Conference, Sep 2003, Charlotte, NC, United States. pp.488-493, 2003, 〈10.1109/TEST.2003.1270874〉. 〈lirmm-00269609〉

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