A New Methodology for ADC Test FLow Optimization

Serge Bernard 1 Mariane Comte 1 Florence Azaïs 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
ITC'03: International Test Conference, Sep 2003, Charlotte, NC, United States. pp.201-209, 2003
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269610
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:59
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269610, version 1

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Citation

Serge Bernard, Mariane Comte, Florence Azaïs, Yves Bertrand, Michel Renovell. A New Methodology for ADC Test FLow Optimization. ITC'03: International Test Conference, Sep 2003, Charlotte, NC, United States. pp.201-209, 2003. 〈lirmm-00269610〉

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