A New Methodology for ADC Test FLow Optimization

Serge Bernard 1 Mariane Comte 1 Florence Azaïs 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269610
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Thursday, April 3, 2008 - 8:21:59 AM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 7:12:02 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00269610, version 1

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Citation

Serge Bernard, Mariane Comte, Florence Azaïs, Yves Bertrand, Michel Renovell. A New Methodology for ADC Test FLow Optimization. ITC'03: International Test Conference, Sep 2003, Charlotte, NC, United States. pp.201-209. ⟨lirmm-00269610⟩

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