Yield Improvement, Fault-Tolerance to the Rescue?

Abstract : With the technology entering the nano dimension, manufacturing processes are less and less reliable, thus drastically impacting the yield. A possible solution to alleviate this problem in the future could consist in using fault tolerant architectures to tolerate manufacturing defects. In this paper, we analyze the conditions that make the use of a classical Triple Modular Redundancy (TMR) architecture interesting for a yield improvement purpose.
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Communication dans un congrès
IOLTS'08: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium, Jul 2008, Rhodes, Greece, IEEE, pp.165-170, 2008
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mardi 22 juillet 2008 - 09:23:22
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02
Document(s) archivé(s) le : lundi 31 mai 2010 - 21:01:59

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Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, et al.. Yield Improvement, Fault-Tolerance to the Rescue?. IOLTS'08: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium, Jul 2008, Rhodes, Greece, IEEE, pp.165-170, 2008. 〈lirmm-00303400〉

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