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Conference papers

Analyse des capacités de test de générateurs intégrés produisant des vecteurs adjacents

Résumé : L'étude présentée ici est une analyse des capacités de détection de pannes associées aux séquences de vecteurs adjacents, produites par deux types de générateurs intégrés. Le principe et la structure de ces deux générateurs, ainsi que l'efficacité des séquences de test produites par chacun d'eux, sont présentés. Cette efficacité est exprimée en terme de couverture de fautes des modèles de collage et de pannes temporelles de chemin.
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00345803
Contributor : Arnaud Virazel <>
Submitted on : Wednesday, December 10, 2008 - 9:39:06 AM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00345803, version 1

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Citation

Arnaud Virazel, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Analyse des capacités de test de générateurs intégrés produisant des vecteurs adjacents. Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, France. pp.88-91. ⟨lirmm-00345803⟩

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