Deriving an Electrical Model for Delay Faults Caused by Crosstalk Aggravated Resistive Short Defects - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Deriving an Electrical Model for Delay Faults Caused by Crosstalk Aggravated Resistive Short Defects

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00367708

Soumis le : jeudi 12 mars 2009-10:59:04

Dernière modification le : lundi 23 septembre 2024-10:28:03

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00367708 , version 1 (12-03-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00367708 , version 1

Citer

Nicolas Houarche, Alejandro Czutro, Mariane Comte, Piet Engelke, Ilia Polian, et al.. Deriving an Electrical Model for Delay Faults Caused by Crosstalk Aggravated Resistive Short Defects. LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop, Mar 2009, Armaçao dos Buzios, Brazil, pp.N/A. ⟨lirmm-00367708⟩

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