Deriving an Electrical Model for Delay Faults Caused by Crosstalk Aggravated Resistive Short Defects

Type de document :
Communication dans un congrès
LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop, Mar 2009, Armaçao dos Buzios, Brazil, pp.N/A, 2009
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 12 mars 2009 - 10:59:04
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00367708, version 1

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Citation

Nicolas Houarche, Alejandro Czutro, Mariane Comte, Piet Engelke, Ilia Polian, et al.. Deriving an Electrical Model for Delay Faults Caused by Crosstalk Aggravated Resistive Short Defects. LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop, Mar 2009, Armaçao dos Buzios, Brazil, pp.N/A, 2009. 〈lirmm-00367708〉

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