Analyzing the Impact of Simultaneous Switching Noise on the Timing Behavior of CMOS Digital Blocks - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Analyzing the Impact of Simultaneous Switching Noise on the Timing Behavior of CMOS Digital Blocks

Florence Azaïs
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Yves Bertrand
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 938340
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Michel Renovell
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00367718

Soumis le : jeudi 12 mars 2009-11:08:09

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00367718 , version 1 (12-03-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00367718 , version 1

Citer

Florence Azaïs, Yves Bertrand, Michel Renovell. Analyzing the Impact of Simultaneous Switching Noise on the Timing Behavior of CMOS Digital Blocks. LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop, Mar 2009, Armaçao dos Buzios, Brazil, pp.N/A. ⟨lirmm-00367718⟩

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