Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Ouvrages Année : 2010

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00371356

Soumis le : vendredi 27 mars 2009-15:25:02

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00371356 , version 1 (27-03-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00371356 , version 1

Citer

Patrick Girard, Nicolas Nicolici, Xiaoqing Wen. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices. Springer, pp.353, 2010. ⟨lirmm-00371356⟩

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