Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Alberto Bosio 1 Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Ouvrage (y compris édition critique et traduction)
Springer, 171 p., 2009, 978-1-4419-0937-4
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00371359
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 27 mars 2009 - 15:28:54
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00371359, version 1

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Citation

Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies. Springer, 171 p., 2009, 978-1-4419-0937-4. 〈lirmm-00371359〉

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