Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Ouvrages Année : 2009

Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00371359

Soumis le : vendredi 27 mars 2009-15:28:54

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00371359 , version 1 (27-03-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00371359 , version 1

Citer

Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies. Springer, 171 p., 2009, 978-1-4419-0937-4. ⟨lirmm-00371359⟩

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